Резултати
| Title: | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs | Authors: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Issue Date: | 2006 | Publication: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | Type: | Conference Paper | ISBN: | 1-4244-0117-8  Search Idenfier |
Collation: | str. 645-648 | DOI: | 10.1109/icmel.2006.1651039 | WoS-ID: | 000238839700134 | Scopus-ID: | 2-s2.0-47649086219 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799196 | Metadata source: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-category: | Mp. category will be shown later |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.