Results
| Naziv: | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs | Autori: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2006 | Publikacija: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2, Proceedings | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 1-4244-0117-8  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 645-648 | DOI: | 10.1109/icmel.2006.1651039 | WoS-ID: | 000238839700134 | Scopus-ID: | 2-s2.0-47649086219 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799196 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.