Rezultati
| Naziv: | Radiation effects in low-temperature stressed power VDMOS transistors | Autori: | Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S   ; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D |
Godina: | 2000 | Publikacija: | 2000 INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR CONFERENCE, VOLS 1 AND 2, CAS 2000 PROCEEDINGS | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 337-340 | WoS-ID: | 000168560900066 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799747 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.