Rezultati
| Naziv: | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinović, Ninoslav  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana |
Godina: | 2005 | Publikacija: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 45 br. 9-11 str. 1343-1348 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2005.07.018 | WoS-ID: | 000232253500013 | Scopus-ID: | 2-s2.0-24144447330 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/810034 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.