Резултати
еНаука >
Резултати >
Effects of hot carrier and irradiation stresses on advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors
| Назив: | Effects of hot carrier and irradiation stresses on advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors | Аутори  : | Kouvatsos, DN; Davidovic, Vojkan S; Papaioannou, GJ; Stojadinovic, Ninoslav D; Michalas, L; Exarchos, M; Voutsas, AT; Goustouridis, D | Година: | 2004 | Публикација: | MICROELECTRONICS RELIABILITY | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 44 br. 9-11 str. 1631-1636 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2004.07.082 | WoS-ID: | 000224280000061 | Scopus-ID: | 2-s2.0-4544343899 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/813363 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису |
5
SCOPUSTM
4
OpenCitations
5
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.