Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Computer as powerful tool in reliability testing of thin gate dielectrics in MOS devices
| Naziv: | Computer as powerful tool in reliability testing of thin gate dielectrics in MOS devices | Autori: | Vračar, Ljubomir   ; Pešić, Biljana ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2005 | Publikacija: | Eurocon 2005: The International Conference on Computer as a Tool, Vol 1 and 2 , Proceedings | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 1159-1162 | WoS-ID: | 000237248900291 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/813595 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.