Degradation behavior of Ta2O5 stacks and its dependence on the gate electrode

Atanassova, E; Stojadinovic, Ninoslav D; Paskaleva, A

Резултати

еНаука > Резултати > Degradation behavior of Ta2O5 stacks and its dependence on the gate electrode

Назив:	Degradation behavior of Ta2O5 stacks and its dependence on the gate electrode
Аутори:	Atanassova, E; Stojadinovic, Ninoslav D; Paskaleva, A
Година:	2008
Публикација:	MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN:	0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	vol. 48 br. 8-9 str. 1193-1197
DOI:	10.1016/j.microrel.2008.07.006
WoS-ID:	000260347000017
Scopus-ID:	2-s2.0-50349093048
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/814747
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

3
SCOPUS^TM

6
OpenCitations

2
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.