Резултати

eNauka >  Rezultati >  Degradation behavior of Ta2O5 stacks and its dependence on the gate electrode
Naziv: Degradation behavior of Ta2O5 stacks and its dependence on the gate electrode
Autori: Atanassova, E; Stojadinovic, Ninoslav D; Paskaleva, A
Godina: 2008
Publikacija: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Tip rezultata: Konferencijski rad
Kolacija: vol. 48 br. 8-9 str. 1193-1197
DOI: 10.1016/j.microrel.2008.07.006
WoS-ID: 000260347000017
Scopus-ID: 2-s2.0-50349093048
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/814747
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

3
SCOPUSTM
6
OpenCitations
2
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.