Резултати

eNauka >  Rezultati >  New concepts of worst-case delay and yield estimation in asynchronous VLSI circuits
Naziv: New concepts of worst-case delay and yield estimation in asynchronous VLSI circuits
Autori: Sokolovic, Miljana; Litovski, Vanco B; Zwolinski, Mark
Godina: 2009
Publikacija: MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 49 br. 2 str. 186-198
DOI: 10.1016/j.microrel.2008.11.007
WoS-ID: 000264270800011
Scopus-ID: 2-s2.0-59449084075
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/814982
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

3
SCOPUSTM
1
OpenCitations
2
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.