Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Constant voltage stress induced current in Ta2O5 stacks and its dependence on a gate electrode
Naziv: Constant voltage stress induced current in Ta2O5 stacks and its dependence on a gate electrode
Autori: Atanassova, E; Stojadinović, Ninoslav D ; Paskaleva, A; Spassov, D; Vračar, Ljubomir M  ; Georgieva, M
Godina: 2008
Publikacija: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
ISSN: 0268-1242 Semiconductor Science and Technology Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 23 br. 7 str. 75017-75017
DOI: 10.1088/0268-1242/23/7/075017
WoS-ID: 000257201100018
Scopus-ID: 2-s2.0-47749152260
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/815920
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a

16
SCOPUSTM
11
OpenCitations
10
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.