Noise and resistance as indicators of HVP stressing impact on performances of conventional TFRs

Results

Naziv:	Noise and resistance as indicators of HVP stressing impact on performances of conventional TFRs
Autori:	Stanimirović, Ivanka P. ; Jevtić, Milan M.; Stanimirović, Zdravko I.
Godina:	2008
Publikacija:	26th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2 : Proceedings
Izdavač:	IEEE
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-1-4244-1881-7 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. 571-574
DOI:	10.1109/ICMEL.2008.4559350
WoS-ID:	000257432600121
Scopus-ID:	2-s2.0-51749106360
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/825685
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
Napomena o dostupnosti:	Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
SCOPUS^TM

Altmetric

Dimensions

Unpaywall

Google Scholar^TM