Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Analysis of mechanical and electrical straining effects on TFRs - Statistical bimodal conductance approach
Naziv: Analysis of mechanical and electrical straining effects on TFRs - Statistical bimodal conductance approach
Autori: Stanimirovic, Zdravko I  ; Jevtic, Milan M; Stanimirovic, Ivanka P  
Godina: 2008
Publikacija: 26th International Conference on Microelectronics, Vols 1 and 2 : Proceedings
Izdavač: IEEE
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 978-1-4244-1881-7 Pretraži identifikator
Kolacija: str. 575-577
DOI: 10.1109/ICMEL.2008.4559351
WoS-ID: 000257432600122
Scopus-ID: 2-s2.0-51749103760
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/827725
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
Napomena o dostupnosti: Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
SCOPUSTM
1
OpenCitations
1
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.