Резултати
еНаука >
Резултати >
Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs
| Назив: | Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M   ; Davidović, Vojkan; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, Sima |
Година: | 2002 | Публикација: | Microelectronics Reliability | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 42 br. 4-5 str. 669-677 | DOI: | 10.1016/S0026-2714(02)00039-2 | WoS-ID: | 000176465800017 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0036540086 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/830908 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису |
18
SCOPUSTM
18
OpenCitations
18
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.