Analysis of the ellipsometric spectra of nanometer thick polyelectrolyte layers on silicon wafers with thermally grown silicon dioxide

Isić, Goran; Nedić, Stanko; Vasić, Borislav; Ralević, Uroš; Aškrabić, Sonja

Резултати

еНаука > Резултати > Analysis of the ellipsometric spectra of nanometer thick polyelectrolyte layers on silicon wafers with thermally grown silicon dioxide

Назив:	Analysis of the ellipsometric spectra of nanometer thick polyelectrolyte layers on silicon wafers with thermally grown silicon dioxide
Аутори:	Isić, Goran ; Nedić, Stanko ; Vasić, Borislav ; Ralević, Uroš ; Aškrabić, Sonja
Година:	2022
Публикација:	15th Photonics Workshop (2022)
Тип резултата:	Конференцијски рад
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/867949
URL:	http://www.photonicsworkshop.ipb.ac.rs/15/index.php
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz ORCID-a) Isić, Goran
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.