Analysis of the ellipsometric spectra of nanometer thick polyelectrolyte layers on silicon wafers with thermally grown silicon dioxide

Isić, Goran; Nedić, Stanko; Vasić, Borislav; Ralević, Uroš; Aškrabić, Sonja

Rezultati

eNauka > Rezultati > Analysis of the ellipsometric spectra of nanometer thick polyelectrolyte layers on silicon wafers with thermally grown silicon dioxide

Naziv:	Analysis of the ellipsometric spectra of nanometer thick polyelectrolyte layers on silicon wafers with thermally grown silicon dioxide
Autori:	Isić, Goran ; Nedić, Stanko ; Vasić, Borislav ; Ralević, Uroš ; Aškrabić, Sonja
Godina:	2022
Publikacija:	15th Photonics Workshop (2022)
Tip rezultata:	Konferencijski rad
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/867949
URL:	http://www.photonicsworkshop.ipb.ac.rs/15/index.php
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz ORCID-a) Isić, Goran
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.