Резултати

еНаука >  Резултати >  ANN Model of Electric Stress in Power n-channel VDMOS Transistors
Назив: ANN Model of Electric Stress in Power n-channel VDMOS Transistors
Аутори: Vulović, Aleksandar; Savić, Milan ; Aleksić, Sanja  ; Pantić, Dragan  
Година: 2016
Публикација: 6th Small Sistem Simulation Symposium – SSSS 2016
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-86-6125-154-2 Претражи идентификатор
Колација: str. 58-61
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/878627
Извор метаподатака: (Preuzeto iz ORCID-a) Pantić, Dragan
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI


Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.