Rezultati

eNauka >  Rezultati >  ANN Model of Electric Stress in Power n-channel VDMOS Transistors
Naziv: ANN Model of Electric Stress in Power n-channel VDMOS Transistors
Autori: Vulović, Aleksandar; Savić, Milan ; Aleksić, Sanja  ; Pantić, Dragan  
Godina: 2016
Publikacija: 6th Small Sistem Simulation Symposium – SSSS 2016
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 978-86-6125-154-2 Pretraži identifikator
Kolacija: str. 58-61
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/878627
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Pantić, Dragan
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI


Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.