Резултати

еНаука >  Резултати >  Modelling of δvt in NBT stressed P-channel power VDMOSFETS
Назив: Modelling of δv<sub>t</sub> in NBT stressed P-channel power VDMOSFETS
Аутори: Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Година: 2019
Публикација: 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings
ISSN: 2159-1679 Претражи идентификатор
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-1-7281-3419-2 Претражи идентификатор
Колација: str. 177-180
DOI: 10.1109/MIEL.2019.8889584
WoS-ID: 000565455600037
Scopus-ID: 2-s2.0-85075385957
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889237
Пројекат: Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI-171026, TR-32026]
Serbian Academy of Sciences and Arts (SASA) [F-148]
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
(Preuzeto iz Nasi u WoS)
(Preuzeto iz ORCID-a) Danković, Danijel
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

6
SCOPUSTM
3
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.