Characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-by-layer polyelectrolyte deposition on thermally oxidized silicon wafers

Nedić, Stanko; Aškrabić, Sonja; Vasić, Borislav; Isic, Goran; Ralevic, Uroš

Rezultati

eNauka > Rezultati > Characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-by-layer polyelectrolyte deposition on thermally oxidized silicon wafers

Naziv:	Characterization of ultrathin dielectric films prepared via layer-by-layer polyelectrolyte deposition on thermally oxidized silicon wafers
Autori:	Nedić, Stanko ; Aškrabić, Sonja ; Vasić, Borislav ; Isic, Goran ; Ralevic, Uroš
Godina:	2022
Publikacija:	15th Photonics Workshop (2022)
Tip rezultata:	Ostalo
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/904374
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz ORCID-a) Isić, Goran
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.