Резултати
еНаука >
Резултати >
Thickness measurement of thin films using atomic force microscopy based scratching
| Назив: | Thickness measurement of thin films using atomic force microscopy based scratching | Аутори: | Vasić, Borislav   ; Aškrabić, Sonja |
Година: | 2024 | Публикација: | SURFACE TOPOGRAPHY-METROLOGY AND PROPERTIES | ISSN: | 2051-672X Surface Topography-Metrology and Properties Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 12 br. 2 str. 025027-025027 | DOI: | 10.1088/2051-672X/ad54de | WoS-ID: | 001250046700001 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85196437169 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/939297 | Пројекат: | Ministry of Education, Science, and Technological Development of the Republic of Serbia Institute of Physics Belgrade |
Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.