Резултати

еНаука >  Резултати >  Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor
Назив: Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor
Аутори Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  
Година: 2024
Публикација: Book of Abstracts - RAD 2024 Conference
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-86-901150-7-5 Претражи идентификатор
DOI: 10.21175/rad.abstr.book.2024.35.21
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/942150
Извор метаподатака: (Preuzeto iz CrossRef-a) Mitrović, Nikola
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.