Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor
| Naziv: | Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor | Autori  : | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Živanović, Emilija ; Marjanović, Miloš ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Godina: | 2024 | Publikacija: | Book of Abstracts - RAD 2024 Conference | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-86-901150-7-5  Pretraži identifikator |
DOI: | 10.21175/rad.abstr.book.2024.35.21 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/942150 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Mitrović, Nikola | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.