Researchers

Rezultati 181-183 od 183
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2003Effects of electrical stressing in power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2002Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2002Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaNaučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22