Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs

Stojadinović, Ninoslav; Manić, Ivica; Davidović, Vojkan; Danković, Danijel; Đorić Veljković, Snežana; Golubović, Snežana; Dimitrijev, Sima

Резултати

еНаука > Резултати > Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs

Назив :	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs
Аутори:	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima
Година:	2003
Публикација:	IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits
Издавач:	IEEE
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	str. 291-296
DOI:	10.1109/EDSSC.2003.1283534
WoS-ID:	000189450800064
Scopus-ID:	2-s2.0-84946403753
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/827847
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

10
SCOPUS^TM

8
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.