Results
Naziv  : | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinović, Ninoslav  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima |
Godina: | 2003 | Publikacija: | IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits | Izdavač: | IEEE | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 291-296 | DOI: | 10.1109/EDSSC.2003.1283534 | WoS-ID: | 000189450800064 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84946403753 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/827847 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.