Rezultati

eNauka >  Results >  Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs
Title : Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs
Authors: Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima
Issue Date: 2003
Publication: IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits
Publisher: IEEE
Type: Conference Paper
Collation: str. 291-296
DOI: 10.1109/EDSSC.2003.1283534
WoS-ID: 000189450800064
Scopus-ID: 2-s2.0-84946403753
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/827847
Metadata source: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-category: 
Mp. category will be shown later

14
SCOPUSTM
4
OpenCitations
10
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.