Резултати
| Назив: | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinović, Ninoslav  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima |
Година: | 2002 | Публикација: | 2002 23RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 717-721 | WoS-ID: | 000176359700151 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808360 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.