Results
| Naziv: | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinović, Ninoslav  ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima |
Godina: | 2002 | Publikacija: | 2002 23RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 717-721 | WoS-ID: | 000176359700151 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/808360 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2
WEB OF SCIENCETM
Google ScholarTM
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.