Истраживачи

Резултати 181-183 од 183
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2003Effects of electrical stressing in power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2002Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, SimaНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22