Istraživači

eNauka >  Researchers >  Prijić, Zoran

Prijić, Zoran

Rezultati 101-120 od 151
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2014Microstructural and dielectrical characterization of Ho doped BaTiO3 ceramicsMarjanović, Miloš  ; Dimitrijevic, Dragana; Paunović, Vesna  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2014Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistoraMarjanović, Miloš B.  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Davidović, Vojkan  ; Janković, Nebojša D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Tastatura od programabilnih tastera izrađenih u tehnologiji štampanih ploča i postupak dodeljivanja identifikacione oznake tasterima - RS 52967BVračar, Ljubomir  ; Vučković, Dušan  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  Patent
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETsPrijić, Zoran  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Microstructure and dielectric properties of Dy/Mn doped BaTiO3 ceramicsPaunović, Vesna  ; Mitić, Vojislav ; Prijić, Zoran  ; Živković, Ljiljana  Naučni članak
21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
2014Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snageAleksandar Ilić; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Recoverable and Permanent Components of V-T Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS TransistorsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Poglavlje u monografiji
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014On the Measurement Methods for Dielectric Constant Determination in Nb/BaTiO3 CeramicsMarjanović, Miloš B.  ; Paunović, Vesna V.  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Mitić, Vojislav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013Naponsko temperaturna naprezanja p-kanalnih VDMOS tranzistora snageDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica Đ.  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013Karakterizacija komercijalnih termoelektričnih generatora za primene u samonapajajućim senzorskim sistemimaDejan Milić; Prijić, Aneta  ; Vračar, Ljubomir  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013An Electromechanical Approach to a Printed Circuit Board Design CourseDanković, Danijel  ; Vračar, Ljubomir  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2013Samonapajajući fotonaponski čvor bežične senzorske mrežeVračar, Ljubomir  ; Damir Nešić; Saša Dević; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  Tehničko rešenje
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2013Mikrostrukturna i električna svojstva Ho dopirane BaTiO3 keramikeMarjanović, Miloš  ; Dimitrijević, Dragana; Paunović, Vesna  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETSDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
53M53 - Nacionalni časopis kategorije M53
2012Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistorsPrijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Vračar, Ljubomir  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2012Nova metoda za ispitivanje nestabilnosti usled naponsko temperaturnih naprezanja VDMOS tranzistora snageDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Vračar, Ljubomir M.  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Tehničko rešenje
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.