Резултати
еНаука >
Резултати >
Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs
| Назив: | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2013 | Публикација: | INFORMACIJE MIDEM-JOURNAL OF MICROELECTRONICS ELECTRONIC COMPONENTS AND MATERIALS | ISSN: | 0352-9045 Informacije Midem. Journal of Microelectronics, Electric Components and Materials Претражи идентификатор |
Издавач: | Slovenia : MIDEM Society | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 43 br. 1 str. 58-66 | WoS-ID: | 000318180100008 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/472151 http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_43%282013%291p58.pdf |
URL: | http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_43%282013%291p58.pdf | Пројекат: | Ministry of Education and Science of the Republic of Serbia [OI171026, TR32026] Ei PCB Factory, Nis, Serbia |
Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
4
WEB OF SCIENCETM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.