Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs
| Naziv: | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Autori: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2013 | Publikacija: | INFORMACIJE MIDEM-JOURNAL OF MICROELECTRONICS ELECTRONIC COMPONENTS AND MATERIALS | ISSN: | 0352-9045 Informacije Midem. Journal of Microelectronics, Electric Components and Materials Pretraži identifikator |
Izdavač: | Slovenia : MIDEM Society | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 43 br. 1 str. 58-66 | WoS-ID: | 000318180100008 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/472151 http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_43%282013%291p58.pdf |
URL: | http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_43%282013%291p58.pdf | Projekat: | Ministry of Education and Science of the Republic of Serbia [OI171026, TR32026] Ei PCB Factory, Nis, Serbia |
Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
4
WEB OF SCIENCETM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.