Резултати
| Назив: | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Аутори: | Prijić, Zoran   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2014 | Публикација: | Proc. 50th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials (MIDEM 2014) | Издавач: | MIDEM Society, Ljubljana, Slovenija | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-961-92933-4-8  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 9-16 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/209898 | URL: | http://www.midem-drustvo.si/conf2014 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.