Rezultati
| Naziv: | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Autori: | Prijić, Zoran   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2014 | Publikacija: | Proc. 50th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials (MIDEM 2014) | Izdavač: | MIDEM Society, Ljubljana, Slovenija | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-961-92933-4-8  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 9-16 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/209898 | URL: | http://www.midem-drustvo.si/conf2014 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.