Istraživači
Ristić, Goran
Godina
- 134 2000 - 2027
- 27 1000 - 1999
Mp-kat.
- 69 M30/M60
- 39 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 17 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 12 M20/M50
- 10 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 8 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M10/M40
- 1 M15/M16
- 1 M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+
- 1 M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 21-40 od 161
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2023 | An improved RADFET-based module with an extended dose range of 1 kGy TID based on COTS parts![]() | Vasović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Sensitivity and fading of eight different types of pMOS transistors irradiated to high dose![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Towards a Smart Multi-Sensor Ionizing Radiation Monitoring System![]() | Andjelković, Marko | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Gain dependence on free carrier concentration in LGADs | Kramberger, G; Hiti, B; Cindro, V; Howard, A; Mandic, I; Mikuz, M; Petek, M; Ristic, Aleksa T; Ristic, Goran S | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2023 | Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | SPICE Modeling of RADFETs with Different Gate Oxide Thicknesses![]() | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Prediction of Generated Single Event Transient Pulse Width Using Artificial Intelligence Methods![]() | Andjelković, Marko | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Batteryless NFC dosimeter tag for ionizing radiation based on commercial MOSFET | Pousibet-Garrido, A; Escobedo, P; Guirado, D; Ristic, Goran S | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2023 | NFC Implementation Methods for ESP32 Based IoT Systems![]() | Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Successive irradiation and thermal annealing of commercial p-channel LDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Using TCAD Simulations to Verify the McWhorter Method for Assessing Trapped Charge in Dielectric![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | TCAD validation of McWhorter method for extracting trapped charge in dielectrics![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Voltage Glitch Filter and Detector with Self-Checking Capability for FPGA Implementation![]() | Andjelković, Marko | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Dozimetar jonizujućeg zračenja zasnovan na Arduino mikrokontroleru i senzoru BG51![]() | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | P-channel power VDMOSFETs under the influence of radiation and static/pulsed NBT stress![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Sensitivity and fading of irradiated RADFETs with different gate voltages![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2022 | Commercial P-Channel Power VDMOSFET as X-ray Dosimeter![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2022 | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress![]() | Veljković, Sandra | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
