Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Using TCAD Simulations to Verify the McWhorter Method for Assessing Trapped Charge in Dielectric
| Naziv: | Using TCAD Simulations to Verify the McWhorter Method for Assessing Trapped Charge in Dielectric | Autori: | Veljković, Sandra   ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel ; Palma, Alberto; Andjelković, Marko ; Duane, Russell |
Godina: | 2023 | Publikacija: | 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics (MIEL) | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 979-8-3503-4776-0  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/MIEL58498.2023.10315943 | WoS-ID: | 001701718400043 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85183085836 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889216 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Danković, Danijel | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.