Резултати
еНаука >
Резултати >
Using TCAD Simulations to Verify the McWhorter Method for Assessing Trapped Charge in Dielectric
| Назив: | Using TCAD Simulations to Verify the McWhorter Method for Assessing Trapped Charge in Dielectric | Аутори: | Veljković, Sandra   ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel ; Palma, Alberto; Andjelković, Marko ; Duane, Russell |
Година: | 2023 | Публикација: | 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics (MIEL) | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 979-8-3503-4776-0  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/MIEL58498.2023.10315943 | WoS-ID: | 001701718400043 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85183085836 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889216 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Danković, Danijel | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.