Istraživači
Veljković, Sandra
Rezultati 1-1 od 1
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2025 | Stress-induced degradation and lifetime estimation in commercial power VDMOS transistors | Danković, Danijel; Mitrović, Nikola   ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan | Uređivački rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |