Резултати
еНаука >
Резултати >
Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor under Dynamic Stress Conditions
| Назив: | Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor under Dynamic Stress Conditions | Аутори: | Đorđević, Dunja; Veljkovic, Sandra   ; Ristić, Goran |
Година: | 2025 | Публикација: | First RESIST Workshop: Cross-Layer Reliability Assessment of Electronic Systems – RESIST, 5-7 May 2025, Niš, Serbia, p. 27 | Тип резултата: | Информативни прилог | ISBN: | 978-86-6125-285-3  Претражи идентификатор |
URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013194 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.