Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor under Dynamic Stress Conditions
Naziv: Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor under Dynamic Stress Conditions
Autori: Đorđević, Dunja; Veljkovic, Sandra  ; Ristić, Goran  
Godina: 2025
Publikacija: First RESIST Workshop: Cross-Layer Reliability Assessment of Electronic Systems – RESIST, 5-7 May 2025, Niš, Serbia, p. 27
Tip rezultata: Informativni prilog
ISBN: 978-86-6125-285-3 Pretraži identifikator
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013194
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.