Резултати
еНаука >
Резултати >
Investigation of Self-Heating Effects in Power VDMOS Transistors Subjected to different Pre-Stress Conditions
| Назив: | Investigation of Self-Heating Effects in Power VDMOS Transistors Subjected to different Pre-Stress Conditions | Аутори: | Živanović, Emilija   ; Veljkovic, Sandra |
Година: | 2025 | Публикација: | Second RESIST Workshop: Cross-Layer Reliability Assessment of Electronic Systems – RESIST, June 30th and July 1st 2025, Frankfut Oder, Germany, p. 11 | Тип резултата: | Информативни прилог | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013199 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra | Напомена о доступности: | Подаци и/или пуни текст су непотпуни | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.