Резултати

eNauka >  Rezultati >  Investigation of Self-Heating Effects in Power VDMOS Transistors Subjected to different Pre-Stress Conditions
Naziv: Investigation of Self-Heating Effects in Power VDMOS Transistors Subjected to different Pre-Stress Conditions
Autori: Živanović, Emilija  ; Veljkovic, Sandra  
Godina: 2025
Publikacija: Second RESIST Workshop: Cross-Layer Reliability Assessment of Electronic Systems – RESIST, June 30th and July 1st 2025, Frankfut Oder, Germany, p. 11
Tip rezultata: Informativni prilog
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1013199
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra
Napomena o dostupnosti: Подаци и/или пуни текст су непотпуни
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Пронађи DOI

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.