Резултати
еНаука >
Резултати >
Reliability Issues of Thick-Film Resistors in Embedded Piezoelectric Smart Aggregates for Strain Monitoring
| Назив: | Reliability Issues of Thick-Film Resistors in Embedded Piezoelectric Smart Aggregates for Strain Monitoring | Аутори: | Stanimirović, Ivanka   ; Stanimirović, Pavle; Stanimirović, Zdravko |
Година: | 2025 | Публикација: | 2025 IEEE 34th International Conference on Microelectronics (MIEL) | Издавач: | IEEE | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 979-8-3315-1418-1  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/miel66332.2025.11261034 | WoS-ID: | 001661593600010 | Scopus-ID: | 2-s2.0-105030340908 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/15982 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1014869 |
Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Stanimirović, Zdravko | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.