Резултати
eNauka >
Rezultati >
Reliability Issues of Thick-Film Resistors in Embedded Piezoelectric Smart Aggregates for Strain Monitoring
| Naziv: | Reliability Issues of Thick-Film Resistors in Embedded Piezoelectric Smart Aggregates for Strain Monitoring | Autori: | Stanimirović, Ivanka   ; Stanimirović, Pavle; Stanimirović, Zdravko |
Godina: | 2025 | Publikacija: | 2025 IEEE 34th International Conference on Microelectronics (MIEL) | Izdavač: | IEEE | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 979-8-3315-1418-1  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/miel66332.2025.11261034 | WoS-ID: | 001661593600010 | Scopus-ID: | 2-s2.0-105030340908 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/15982 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1014869 |
Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Stanimirović, Zdravko | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.