Резултати
| Назив: | Short-term Recovery Effect in a Power Integrated Circuit Exposed to X-Rays | Аутори: | Vukić, V. Dj.   |
Година: | 2023 | Публикација: | 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics (MIEL) | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 979-8-3503-4776-0  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 1-6 | DOI: | 10.1109/miel58498.2023.10315805 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85183831855 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1022697 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Vukić, Vladimir | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.