Rezultati
| Naziv: | Short-term Recovery Effect in a Power Integrated Circuit Exposed to X-Rays | Autori: | Vukić, V. Dj.   |
Godina: | 2023 | Publikacija: | 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics (MIEL) | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 979-8-3503-4776-0  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 1-6 | DOI: | 10.1109/miel58498.2023.10315805 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85183831855 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1022697 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Vukić, Vladimir | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.