Резултати

еНаука >  Резултати >  C–V profiling of ultra-shallow junctions using step-like background profiles
Назив: C–V profiling of ultra-shallow junctions using step-like background profiles
Аутори: Popadić, Miloš; Milovanović, Vladimir  ; Xu, Cuiqin; Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K.
Година: 2010
Публикација: Solid-State Electronics
ISSN: 0038-1101 Solid-state Electronics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 54 br. 9 str. 890-896
DOI: 10.1016/j.sse.2010.04.028
WoS-ID: 000280322300012
Scopus-ID: 2-s2.0-77954215647
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/133515
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.