Results
| Naziv: | C–V profiling of ultra-shallow junctions using step-like background profiles | Autori: | Popadić, Miloš; Milovanović, Vladimir   ; Xu, Cuiqin; Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K. |
Godina: | 2010 | Publikacija: | Solid-State Electronics | ISSN: | 0038-1101 Solid-state Electronics Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 54 br. 9 str. 890-896 | DOI: | 10.1016/j.sse.2010.04.028 | WoS-ID: | 000280322300012 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77954215647 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/133515 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.