Резултати
еНаука >
Резултати >
NBTI and Radiation Related Degradation and Lifetime Estimation in Power VDMOSFETs
| Назив: | NBTI and Radiation Related Degradation and Lifetime Estimation in Power VDMOSFETs | Аутори: | Stojadinović, Ninoslav D.  |
Година: | 2017 | Публикација: | Proc. IEEE Summer School Nanoelectronic technologies & devices: From basic principle to highly reliable application | Издавач: | Toulouse | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | vol. 2 str. 71-92 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/141117 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.