Rezultati
eNauka >
Rezultati >
NBTI and Radiation Related Degradation and Lifetime Estimation in Power VDMOSFETs
| Naziv: | NBTI and Radiation Related Degradation and Lifetime Estimation in Power VDMOSFETs | Autori: | Stojadinović, Ninoslav D.  |
Godina: | 2017 | Publikacija: | Proc. IEEE Summer School Nanoelectronic technologies & devices: From basic principle to highly reliable application | Izdavač: | Toulouse | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | vol. 2 str. 71-92 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/141117 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.